顯微鏡分析工作邁向計算機化和網(wǎng)絡(luò)化。
在儀器設(shè)備方面，目前掃描電鏡的操作系統(tǒng)已經(jīng)使用了全新的操作界面。用戶只須按動鼠標(biāo)，就可以實現(xiàn)電鏡鏡筒和電氣部分的控制以及各類參數(shù)的自動記憶和調(diào)節(jié)。不同地區(qū)之間,可以通過網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)，演示如樣品的移動，成像模式的改變, 電鏡參數(shù)的調(diào)整等。以實現(xiàn)對電鏡的遙控作用。

顯微鏡在納米材料研究中的重要應(yīng)用。
由于顯微鏡的分析精度逼近原子尺度，所以利用場發(fā)射槍透射電鏡，用直徑為0.13nm的電子束，不僅可以采集到單個原子的Z-襯度像，而且還可采集到單個原子的電子能量損失譜。即電子顯微鏡可以在原子尺度上可同時獲得材料的原子和電子結(jié)構(gòu)信息。觀察樣品中的單個原子像，始終是科學(xué)界長期追求的目標(biāo)。一個原子的直徑約為1千萬分之2-3mm。所以，要分辯出每個原子的位置，需要0.1nm左右的分辨率的電鏡，并把它放大約1千萬倍才行。人們預(yù)測，當(dāng)材料的尺度減少到納米尺度時，其材料的光、電等物理性質(zhì)和力學(xué)性質(zhì)可能具有*性。因此，納米顆粒、納米管、納米絲等納米材料的制備，以及其結(jié)構(gòu)與性能之間關(guān)系的研究成為人們十分關(guān)注的研究熱點。

掃描電鏡、透射電鏡在材料科學(xué)特別納米科學(xué)技術(shù)上的地位日益重要。穩(wěn)定性、操作性的改善使得電鏡不再是少數(shù)專家使用的儀器，而變成普及性的工具；更高分辨率依舊是電鏡發(fā)展的zui主要方向；掃描電鏡和透射電鏡的應(yīng)用已經(jīng)從表征和分析發(fā)展到原位實驗和納米可視加工；聚焦離子束(FIB)在納米材料科學(xué)研究中得到越來越多的應(yīng)用；FIB/SEM雙束電鏡是目前集納米表征、納米分析、納米加工、納米原型設(shè)計的zui強大工具；矯正型STEM (Titan)的目標(biāo):2008年實現(xiàn)0.5Å分辨率下的3D結(jié)構(gòu)表征。

利用顯微鏡，一般要在200KV以上超高真空場發(fā)射槍透射電鏡上，可以觀察到納米相和納米線的高分辨電子顯微鏡像、納米材料的電子衍射圖和電子能量損失譜。如在電鏡上觀察到內(nèi)徑為0.4nm的納米碳管、Si-C-N 納米棒、以及Li摻雜Si的半導(dǎo)體納米線等。
在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，納米膠體金技術(shù)、納米硒保健膠囊、納米級水平的細(xì)胞器結(jié)構(gòu)，以及納米機器人可以小如細(xì)菌，在血管中監(jiān)測血液濃度，清除血管中的血栓等的研究工作，可以說都與電子顯微鏡這個工具分不開。